尝试用 NanoVNA 测试手上的一个从成都 M 哥那买的车台苗子用的磁吸天线底座的特性阻抗，参考国外的一些教程，最后的做法是：
- 底座上装了 M 头转 SMA 母，再接 50Ω 负载（NanoVNA 附带的）
- 底座的线一端接 M 头转 SMA 母，再接 SMA 公-公，再接 NanoVNA CH1
- NanoVNA 提前校准好 50k ~ 25MHz 段（方法同样是参考网上的，假负载 ~ SMA公-公 ~ NanoVNA CH1，分别用开路、短路、50Ω负载作为假负载点校准里面的按钮，最后保存、应用，测试施密特图里这三个负载正常测量）
- 开施密特图 R+L/C 模式，从 50k 开始向上找到线第一个与主轴交叉的位置，读当前测量阻抗
- 将此阻抗与 50 相乘开根号得到传输线特性阻抗
这里 25MHz 的选取是参考了某个视频上说用 75/线的长度，我取了 3m，算出来就是 25MHz。
我怎么测，那个交叉点处的阻抗都是 1.2Ω 左右（交叉点在 9.5 MHz 左右），最终测量出的值是 7Ω 左右，怎么考虑误差这个值都和 50Ω、75Ω 的典型值相差得太离谱了。
各位有何想法吗？我在想是测量原理本身有问题（网上至少看到了另一种做法，目前还没尝试），还是我的操作有问题呢？特别是校准到底应该把待测的同轴线加进去还是像现在一样不加。
感谢各位的指正。
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